高低溫低氣壓試驗(yàn)箱制冷機(jī)組給予試驗(yàn)箱室溫至-70℃的低溫冷源。制冷機(jī)組選用二元復(fù)疊制冷方式。由進(jìn)口半封閉壓縮機(jī)、熱力膨脹閥、干燥過濾器、繼電器等部件構(gòu)成。選用水冷式冷凝器，以確保運(yùn)行情況的穩(wěn)定。致冷回路包含主回路及協(xié)助回路。溫度控制板依據(jù)試驗(yàn)規(guī)定自動選擇致冷回路，并依據(jù)必須調(diào)整輸出的冷量，使其與所需冷量盡呆能配對，進(jìn)而提升控制板精度及制冷效率，減少運(yùn)行花費(fèi)。
　　加熱系統(tǒng)給予高低溫低氣壓試驗(yàn)箱室溫至125℃熱原。選用不銹鋼翅片式加熱裝置。確保加溫平穩(wěn)靠譜。真空系統(tǒng)由機(jī)械泵、聯(lián)接管路、壓力調(diào)節(jié)閥、電磁真空擋板閥、打氣手閥、液位傳感器等部件構(gòu)成。給予系統(tǒng)需要的真空。
　　高低溫低氣壓試驗(yàn)箱自動控制系統(tǒng)由程序控制器、溫度控制板、溫度感應(yīng)器、壓力變送器、故障檢測元件，執(zhí)行元件等構(gòu)成。從功能上包含溫度控制系統(tǒng)、壓力控制系統(tǒng)和保護(hù)系統(tǒng)等部分。

　　高低溫低氣壓試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)
　　1、控制裝置:德國西門子PLC程序控制器1套;
　　2、動態(tài)顯示:5.7"彩色人機(jī)界面，中文表明設(shè)置和及時溫度、濕度、壓力、運(yùn)作及剩余時間，程序組號及段號，加溫、致冷等工作狀態(tài)和實(shí)時時鐘等;
　　3、設(shè)置方法:觸摸屏鍵入，運(yùn)行方式:定值或程序方法，全數(shù)顯式PID自整定調(diào)整;
　　4、溫度測量:Pt100鎧裝鉑電阻，顯示分辨率:溫度：0.1℃，濕度：0.1%RH，壓力：1Pa，時長：1min;
　　5、程序方式:20組times;200段程序設(shè)置操縱，曲線和數(shù)據(jù)跟蹤表明紀(jì)錄;
　　6、數(shù)據(jù)導(dǎo)出:配備USB接口1個，可通過U盤導(dǎo)出試驗(yàn)數(shù)據(jù);
　　7、輸出打印:可配置微型打印機(jī)，直接打印試驗(yàn)數(shù)據(jù);內(nèi)嵌4M存儲空間紀(jì)錄(26萬只)實(shí)時數(shù)據(jù)，裝有USB導(dǎo)出插口;
　　8、通信作用:配RS232或RS485通訊接口及通訊軟件，可實(shí)現(xiàn)上臺PC機(jī)實(shí)時監(jiān)控作用(選裝);
　　9、其它功能:過熱、過壓、斷相、錯相、壓縮機(jī)油少等警報提醒，并記錄任一時刻的警報，同時彈出可能的故障原因及解決方法。低氣壓試驗(yàn)箱主要用于試驗(yàn)工件在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時功效中的環(huán)境適應(yīng)性與穩(wěn)定性試驗(yàn)，并或同時對試樣插電開展電氣性能參數(shù)的測量。因?yàn)榈蜌鈮簩Ξa(chǎn)品的危害在正?？諝猸h(huán)境下是很難模擬的，所以就有了低氣壓試驗(yàn)。隨著市場經(jīng)濟(jì)的逐漸建立，公司間的競爭越來越猛烈。諸多廠家只有依據(jù)低氣壓試驗(yàn)箱的規(guī)范，提升商品對環(huán)境的適應(yīng)性才能在激烈的競爭中存活。
　　低氣壓試驗(yàn)箱符合規(guī)定：
　　《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則》
　　《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》
　　《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
　　《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
　　《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法》
　　《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則》
　　《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低氣壓(高度)試驗(yàn)》
　　在GB/T2424.15-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則》中主要對溫度、低氣壓的應(yīng)用領(lǐng)域，綜合危害試驗(yàn)設(shè)備等進(jìn)行了論述。
　　但在GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》中對試驗(yàn)方式，嚴(yán)苛級別、試驗(yàn)?zāi)康?，?biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)展開了實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)。